Zaakceptowanie na miejscu jakości aplikacji powłoki RTV stanowi ważny element oceny ogólnej jakości aplikacji powłoki RTV. Metoda akceptacji na miejscu obejmuje przede wszystkim następujące aspekty.
(1) W celu kontroli wzrokowej, górne i dolne powierzchnie powinny być równomiernie stosowane, a tło oryginalnej powierzchni izolatora powinno być całkowicie pokryte.
(2) Powierzchnia powłoki powinna być gładka i schludna, a nie powinna znajdować się nagromadzenie, przepływ, pęcherzyki, rysunek drutu, wady lub brakujące rozpylanie.
(3) Powłoka powinna dobrze przylegać do powierzchni izolatora i nie powinno występować zjawisko obierania.
Metoda pomiaru grubości zastosowana jest następująca: próbka
RTV powlekająca powinna być losowo wybrana na górnych i dolnych powierzchniach izolatora, ale miejsce pobierania próbek nie obejmuje krawędzi i narożników izolatora. Do cięcia próbki powłoki należy użyć noża do papieru lub innych odpowiednich narzędzi. Po pobraniu próbek próbka powinna całkowicie odsłonić powierzchnię emalii lub szkła izolatora. Rozmiar próbki powłoki wynosi około 10 mm 215510 mm. Powierzchnia wycinka powinna być wolna od wad, takich jak wystające, dołki i pęcherzyki. Przed pomiarem należy usunąć zanieczyszczenia na powierzchni próbki. Aby zmierzyć grubość próbki powłoki, dokładność pomiaru testera nie powinna być mniejsza niż 0.01 mm.
(1) Kontrola wzrokowa: wszystkie urządzenia aplikacyjne powinny zostać poddane kontroli wzrokowej.
(2) Wymagania dotyczące badania zastosowanej grubości: z każdej wieży napięcia należy pobrać próbki
.
Kontrola losowa może być stosowana w przypadku pobierania próbek z wieży stycznej. Współczynnik pobierania próbek z wieży stycznej musi wynosić więcej niż 30%, a odstęp między pobieraniem próbek nie może przekraczać pięciu zasad.
English
français
Español
русский
العربية
Polska
